Hilfe: Generell zu dieser Seite
Artikel für Rasterkraftmikroskop
Übersicht Quallen bis Rating

Das Rasterkraftmikroskop; seltener Atomkraftmikroskop (engl. Atomic/Scanning Force Microscope; Abkürzungen AFM; seltener RKM und SFM) ist ein zu den Rastersondenmikroskopen gehörendes Messgerät. Das Mikroskop wurde 1986 von Gerd Binnig, Calvin Quate und Christoph Gerber [1] entwickelt und dient zur mechanischen Abtastung von Oberflächen und der Messung atomer Kräfte auf der Nanometerskala. Wikipedia
Themen
Bevölkerungsentwicklung Die alternde Gesellschaft Genetischer Code Globalisierung Hirnforschung Immunsystem Klimawandel Krebs Lasertechnik Ökosysteme Tierwelt Wasser Weltraum
Archiv
- Life Sciences
- Bau/Maschinen/Technik
- Geowissenschaften
- Interna/Termine
- Kultur/Gesellschaft
- Mathematik/Physik
- Politik/Wirtschaft
- aktuell
bis 18.02.08
18.02.08 bis 17.11.04
17.11.04 bis 16.03.99 - aktuell
bis 26.04.07
25.04.07 bis 19.03.99 - aktuell
bis 09.12.07
07.12.07 bis 16.03.99 - aktuell
bis 25.01.08
24.01.08 bis 18.01.07
18.01.07 bis 17.10.05 - aktuell
bis 10.05.05
09.05.05 bis 16.03.99 - aktuell
bis 29.02.08
29.02.08 bis 16.03.99 - aktuell
bis 26.06.07
25.06.07 bis 15.12.03
Anzeigen
www.maschinenbau.de
Das große Portal zum Thema Maschinenbau und Anlagenbau in Deutschland
Das große Portal zum Thema Maschinenbau und Anlagenbau in Deutschland
