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TopografiemessungGroßflächige In-line-Topografiemessung bis in tiefe Bohrungen
Die Weißlichtinterferometrie ist ein etabliertes Messverfahren zur optischen Topografiemessung. Neben den klassischen mikroskopbasierten Systemen mit hoher lateraler Auflösung bietet Polytec Lösungen für große Messfelder, die bislang nur durch fehleranfäl
Topografiemessung in einer Bohrung (Tiefe: 40 mm)
Quelle: Polytec GmbH
Mit dem "TMS-300" können auch zeitkritische In-line Aufgaben realisiert werden. Felder bis zu 40 x 30 mm können in einem Durchgang gemessen werden. Ein weiterer Vorteil dieser telezentrischen Systeme ist die Robustheit gegenüber Abschattungseffekten, die Messungen in Bohrungen bis zu 70 mm Tiefe erlaubt. Die hohe z-Auflösung von wenigen Nanometern oder besser erlaubt den Einsatz bei geringen Toleranzen. Durch die schnellen Messzeiten können Weißlichtinterferometer auch bei der 100-Prozent-Qualitätskontrolle in der Linie eingesetzt werden.
Das System wird im Rahmen der Sonderschau "Berührungslose Messtechnik" anlässlich der Control 2008 in Stuttgart, 22. bis 25. April, in Halle 1, Stand 1626, vorgestellt. Die Sonderschau will einen Beitrag zur Verbreiterung der Akzeptanz berührungsloser Messtechnik leisten, indem an einigen ausgewählten Exponaten die Konstruktionsprinzipien, Eigenheiten und Grenzen der neuen Messmöglichkeiten demonstriert werden. Die Sonderschau findet mit Unterstützung der P. E. Schall GmbH, den Mitgliedern des Control-Messebeirats und der Fraunhofer-Allianz Vision statt.
Die Fraunhofer-Allianz Vision ist ein Zusammenschluss von Fraunhofer-Instituten zu den Themen Bildverarbeitung, optische Inspektion und 3-D-Messtechnik, Röntgenmesstechnik und zerstörungsfreie Prüfung.
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